Katasztrófák és támadások által okozott kommunikációs hálózati hibák előrejelzése

Katasztrófák és támadások által okozott kommunikációs hálózati hibák előrejelzése A hálózati komponensek egymással összefüggő meghibásodásainak hatékony leírására alkalmas az az információs modell, amelyet magyar kutatók publikáltak.

2021. október 6.

A BME VIK kutatói (Vass Balázs, Tapolcai János, Heszberger Zalán, Bíró József), valamint a BME TTK és az ELKH SZTAKI kutatója (Rónyai Lajos) nemzetközi együttműködés keretében vizsgálják a kiterjedt földrajzi területeken bekövetkező természeti katasztrófák vagy szándékos támadások által okozott hálózati hibák tulajdonságait, és ezek következményeit a kritikus infrastruktúrák és szolgáltatások kiesésére vonatkozóan.

A rangos IEEE Journal on Selected Areas of Communication ,,Latest Advances in Optical Networks for 5G Communications and Beyond’’ számában (2021 szeptember) megjelent tanulmányukban egy olyan információs modellt mutatnak be, amely alkalmas a hálózati komponensek egymással összefüggő meghibásodásainak hatékony leírására. A modell lehetővé teszi például azt, hogy előre megbecsüljük egy lehetséges katasztrófa által okozott tömeges hálózati hibák esélyét, vagy éppen azt, hogy egy kommunikációs útvonal milyen valószínűséggel ,,éli túl” a támadást. A kutatók megmutatták azt is, hogy az eddig nehéznek gondolt katasztrófabiztos útválasztás kényszerfeltételei szintén leírhatók kisméretű adatstruktúrákkal.

Földrengések epicentrumának rizikótérképe (b), és példa egy p centrumú katasztrófa által sújtott területre különböző s súlyossági értékek esetén (j) Forrás: IEEE Journal on Selected Areas of Communication

A javasolt modell kiértékelése olyan kiterjedt szimulációs vizsgálatokon alapul, amelyekben a kutatók nagyterületű valós optikai hálózatok topológiáit, és ezen hálózatok földrajzi elhelyezkedésére vonatkozó szeizmikus adatsorait is figyelembe vették. A tanulmány eredményei hasznosak lehetnek a megbízható 5G rendszerek egyik fontos pillérét képező optikai gerinchálózat tervezésében.

A cikk az IEEEXplore adatbázisban ide kattintva érhető el.